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關(guān)于介電常數測試儀的介紹

更新時(shí)間:2019-06-21      點(diǎn)擊次數:2254

關(guān)于介電常數測試儀

 

LJD-B型 高頻介電常數及介質(zhì)損耗測試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
 

LJD-B介電常數及介質(zhì)損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的試驗方法》(等效采用IEC 60250)設計和制造的,并符合JB 7770等試驗方法。

介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的一項重要的物理性質(zhì),通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;該儀器廣泛應用于大專(zhuān)院校、科研院所對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準:GB/T5594.4-1985。
產(chǎn)品特點(diǎn)

它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。

 

介電常數又稱(chēng)電容率或相對電容率,是表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個(gè)重要數據,常用ε表示。介質(zhì)在外加電場(chǎng)時(shí)會(huì )產(chǎn)生感應電荷而削弱電場(chǎng),原外加電場(chǎng)(真空中)與*終介質(zhì)中電場(chǎng)比值即為介電常數。其表示電介質(zhì)在電場(chǎng)中貯存靜電能的相對能力,例如一個(gè)電容板中充入介電常數為ε的物質(zhì)后可使其電容變大ε倍。介電常數愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數的材料放在電場(chǎng)中,場(chǎng)的強度會(huì )在電介質(zhì)內有可觀(guān)的下降。介電常數還用來(lái)表示介質(zhì)的化程度,宏觀(guān)的介電常數的大小,反應了微觀(guān)的化現象的強弱。氣體電介質(zhì)的化現象比較弱,各種氣體的相對介電常數都接近1,液體、固體的介電常數則各不相同,而且介電常數還與溫度、電源頻率有關(guān)。

 

物質(zhì)介電常數具有復數形式,其實(shí)部即為介電常數,虛數部分常稱(chēng)為耗散因數。

通常將耗散因數與介電常數之比稱(chēng)作耗散角正切,其可表示材料與微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料與微波的耦合能力就越強。例如當電磁波穿過(guò)電解質(zhì)時(shí),波的速度被減小,波長(cháng)也變短了。
適用范圍
 該儀器用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。
參數規格

1 Q值測量范圍:5~999

 

   Q值量程分檔:30、100、300、999、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換擋

 

   誤差:25kHz~10MHz   ≤5%±滿(mǎn)度值的2%

 

            10MHz~50MHz ≤7%±滿(mǎn)度值的2%

 

2 電感測量范圍:0.1μH~1H 分七個(gè)量程

 

3 電容測量范圍:1PF~460PF

 

   主電容調節范圍:40PF~500 PF

 

   準確度:150PF以下±1.5PF

 

           150PF以上±1%

 

   微調電容調節范圍:-3PF~0PF~+3PF

 

   準確度:±0.2PF

 

4 頻率覆蓋范圍:25 kHz~50MHz 分七段

 

   指示誤差:2×10-4±2個(gè)字

 

5 電源:220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

 

6 環(huán)境溫度:(0~+40)℃

 

7 相對濕度:RH<80%

 

8 外形尺寸:380mm×132mm×280mm

 

9 重量:約7kg

 

10.電感9只;

 

11.夾具一套

工作原理

1.本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電,使用前要檢查市電電壓是否合適,好采用穩壓電源,以保證測試條件的穩定。

 

2.開(kāi)機預熱15分鐘,使儀器恢復正常狀態(tài)后才能開(kāi)始測試。

 

3.按部件標準制備好的陶瓷試樣,兩面用燒滲法被上銀層,并分別焊上一根Φ0.8mm,30~40mm長(cháng)的金屬引線(xiàn)。引線(xiàn)材料為銅,表面鍍銀并浸錫。

 

4.選擇適當的輔助線(xiàn)圈插入電感接線(xiàn)柱。根據需要選擇振蕩器頻率,調節測試電路電容器使電路諧振。假定諧振時(shí)電容為C1,品質(zhì)因素為Q1。

 

5.“△Q零點(diǎn)調節”旋鈕使Q表指向表頭中間零點(diǎn)。

 

6.“Q量程”開(kāi)關(guān)扳回500檔。

 

7.將被測樣品接在“CX”接線(xiàn)柱上。

 

8.再調節測試電路電容器使電路諧振,這時(shí)電容為C2,“Q量程”扳向△Q位置,可以直接讀出△Q,并且Q2= Q1-△Q,將Q表量程扳回500檔。

 

9.用游標卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d(分別在不同位置測得兩個(gè)數據,再取其平均值)。

 

四、實(shí)驗結果

 

1.tanδ和ε測定記錄

 

實(shí)驗數據按表1要求填寫(xiě)。

 

表1             tanδ和ε測定記錄表

 

試樣名稱(chēng)

 

測定人

 

測定時(shí)間

 

試樣處理

 

編號

C1

C2

C

d

ψ

δ

Q1

△Q

Q2

tanδ

QX

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2.計算

 

Cd

Φ2

 

1)介電常數ε

 

ε=

 

 

 

式中:C---試樣的電容量(PF), C= C1-C2;

 

d---試樣厚度(cm);

 

Φ—試樣直徑(cm)。

 

  C1     △Q       C1     Q1-Q

C1-C2    Q1* Q2     C1-C2    Q1* Q2

 

2)介質(zhì)損耗角正切tanδ

 

                 tanδ=        *        =       *

 

 

 

 1     Q1Q2   C1-C2

tanδ   Q1-Q2     C1

 

3) Q值

 

                  Q =     =       *

 

 

注意事項

1.圓片形試樣的尺寸(Φ=38mm+1mm,d=2mm+0.5mm)要符合公差要求,兩面燒滲銀層、浸錫及焊接引出線(xiàn)要符合技術(shù)條件。

 

2.電壓或頻率的劇烈波動(dòng)常使電橋不能達到良好的平衡,所以測定時(shí),電壓和頻率要求穩定,電壓變動(dòng)不得大于1%,頻率變動(dòng)不得大于0.5%。

 

3.電與試樣的接觸情況,對tanδ的測試結果有很大影響,因此燒滲銀層電要求接觸良好、均勻,而厚度合適。

 

4.試樣吸濕后,測得的tanδ值增大,影響測量精度,應嚴格避免試樣吸潮。

 

5.在測量過(guò)程中,注意隨時(shí)檢查電橋本體屏蔽的情況,當電橋真正達到平衡,“本體-屏蔽”開(kāi)關(guān)置于任何一邊時(shí),檢查計光帶均應*小,而無(wú)大變化。

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